薄膜测厚仪是一种接触式测厚设备，多采用高精度传感器，因为它的测试只和微小位移有关，所以对试样没有选择性。机械式测厚仪的测试精度主要取决于位移传感器的精度，环境温度和风速会影响传感器的精度，因此必须在实验室环境内使用。

　　薄膜测厚仪使用显微光谱法在微小区域内通过反射率进行测量，可进行高精度膜厚度、光学常数分析。可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件。

　　薄膜测厚仪的主要测量方法是机械接触，可以严格按照标准要求确保测试的标准化和准确性。同时，在使用本仪器进行测量时，也应注意不要使本仪器所测量的产品超出量程，否则容易造成测厚精度的问题。测厚仪检测系统具有支持数据实时显示、自动统计、打印等功能，使客户能够更加方便快捷地获得检测结果，从而有效提高检测效率。本仪器的系统通常采用微电脑控制，显示器还配备了液晶，也为大家提供了更加人性化的操作界面。

　　薄膜测厚仪特点：

　　1.通过显微光谱法测量高精度反射率（多层膜厚度，光学常数）；

　　2.头部集成了薄膜厚度测量所需功能；

　　3.区域传感器的安全机制；

　　4.显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）；

　　5.高速测量；

　　6.测量头对应各种客制化需求；

　　7.易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析；

　　8.支持各种自定义。