众测机电研发生产的薄膜厚度仪THK-01采用机械接触式测量方式，符合ASTM D645、ISO 4593、DIN 53105、JIS K6250、TAPPI T411、BS 3983、GB/T 6672等多项国内外标准，适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜厚度仪

薄膜厚度仪THK-01主要参数：

通用名称：测厚仪

其他名称：薄膜测厚仪、薄膜厚度测试仪、薄膜厚度测量仪

测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）

分辨率：0.1μm

测试速度：1～25次/min

测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）

重复性：0.3μm

测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；

接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；

薄膜、纸张任选一种，非标可定制

电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重：30Kg

使用注意事项

1.由于不同的材料有着不同的物理特性，因此测试试件和校准试块尽可能用同一种材质。

2.在测量的时候，探头应始终和试件保持垂直，点接触探头更需如此。

3.要保证在测量的时候，周围，没有什么外部干扰到仪器的工作，如果有的物件会影响周围的磁场，那么也会影响薄膜厚度测试仪的测量数值的准确度。